M.T.M.: その術式と症例 亀田 晃 ※下記に商品説明およびコンディション詳細、出荷予定・配送方法・お届けまでの期間について記載しています。ご確認の上ご購入ください。 Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices (Selected topics in Electronics and Systems) [ハードカバー] Schrimpf, R. D.; Fleetwood, Daniel M.